Mittwoch, 18. März 2026, 19.00 Uhr

Ort: Deutsch-amerikanisches Zentrum/James-F.-Byrnes-Institut e. V., S-Mitte

Fred Stein: Fotograf, Emigrant, Zeitzeuge

Ein Gespräch mit Daniel Siemens. Auf Deutsch.

Die Flucht vor den Nationalsozialisten führte den Juristen Fred Stein von Dresden über Paris schließlich nach New York. Im Exil begann er sein Hobby, die Fotografie, zum Beruf zu machen …  In einem Vortrag stellt Historiker Prof. Daniel Siemens seine Biografie über das Leben und Werk von Fred Stein vor.